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北京懷柔實驗室HDDL2024年第四批機(jī)電設(shè)備采購項目?- ???????光學(xué)凸起雜質(zhì)檢測儀?- 評標(biāo)結(jié)果公示公告
北京市 北京
中標(biāo)公告
  發(fā)布單位: 火標(biāo)網(wǎng)  發(fā)布日期: 2024-12-02 01:12:17
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北京懷柔實驗室********年第四批機(jī)電設(shè)備采購項目- 光學(xué)凸起雜質(zhì)檢測儀- 評標(biāo)結(jié)果公示公告

項目名稱:北京懷柔實驗室********年第四批機(jī)電設(shè)備采購項目 招標(biāo)項目編號:****-************/** 招標(biāo)范圍:產(chǎn)品名稱:光學(xué)凸起雜質(zhì)檢測儀 數(shù)量:* 簡要技術(shù)規(guī)格:光學(xué)凸起雜質(zhì)檢測儀由測量擠出機(jī)、薄膜分析儀、薄膜表面平滑度分析儀、激光打標(biāo)系統(tǒng)及膠帶分揀系統(tǒng)等組成,用于屏蔽料粒子在模擬擠出工藝條件下擠出流延膜表面凸起等光滑度表征測試,評價屏蔽料粒子中炭黑的分散程度及屏蔽料粒子表面光潔度。具備將檢測到的缺陷由激光打標(biāo)系統(tǒng)進(jìn)行標(biāo)記,然后再用切割和分揀機(jī)將聚合物窄帶切割成條狀,并分揀到相應(yīng)的容器中的功能,屬于屏蔽料關(guān)鍵性能檢測設(shè)備。本套系統(tǒng)應(yīng)包含測量擠出機(jī)、薄膜分析儀、薄膜表面平滑度分析儀、激光打標(biāo)系統(tǒng)、膠帶分揀系統(tǒng)及圖形工作站。 招標(biāo)機(jī)構(gòu):登錄后查看 招標(biāo)人:北京懷柔實驗室 開標(biāo)時間:****-**-** **:** 公示開始時間:****-**-** **:** 評標(biāo)公示截止時間:****-**-** **:** 中標(biāo)候選人名單: 候選人排名 投標(biāo)商名稱 制造商 制造商國別及地區(qū) * 威訊科技(集團(tuán))有限公司 *** ******* ******* ******* **** 德國
項目官方指定標(biāo)書制作單位:19352828043
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